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月・惑星探査用遠隔2次イオン質量分析法に関する基礎実験

Paper図書

田中孝治, 宇宙航空研究開発機構 [著][田中孝治]2003-2005<Y151-H15540412>

National Diet Library

Subject Heading遠隔SIMS / 質量分析 / イオンビーム / 2次イオン分析

クラスターイオン分析法の研究

Paper図書

松尾二郎, 京都大学 [著][松尾二郎]2002-2003<Y151-H14550025>

National Diet Library

Subject Headingクラスター / SIMS / 分析 / 2次イオン / 非線形 / 半導体 / イオンビーム / 多体衝突

イオン衝撃を受けた固体表面の原子過程

Paper図書

鶴淵誠二, 東京農工大学 [著][鶴淵誠二]2003-2005<Y151-H15340128>

National Diet Library

Subject Headingイオンビーム / 表面 / 多価イオン / 2次イオン / 2次電子 / スパッタリング / 表面酸素被覆率 / ...

2次イオン顕微質量分析法によるリグニン高次構造の可視化

Paper図書

福島, 和彦, 名古屋大学1999-2001<Y151-H11660163>

National Diet Library

Subject Heading2次イオン質量分析 TOF-SIMS リグニン細胞壁樹木シリンギ...

非放射性アルミニウムおよびシリコンをトレーサーとした超高純度純鉄中の不純物拡散

Paper図書

田口, 収, 宮城工業高等専門学校1999-2001<Y151-H11450241>

National Diet Library

Subject Heading拡散不純物拡散高純度純鉄 2次イオン質量分析原子吸光分析吸光光度分析拡散係数

隕石中の星間物質の探査とその惑星系への進化の研究

Paper図書

圦本, 尚義, 東京工業大学1997-1999<Y151-H09440186>

National Diet Library

Subject Heading隕石酸素珪素マグネシウム 2次イオン質量分析法同位体顕微鏡星間物質惑星系

原始太陽系を探るための同位体顕微鏡の試作

Paper図書

圦本, 尚義, 東京工業大学1994-1995<Y151-H06554021>

National Diet Library

Subject Heading同位体顕微鏡固体撮像素子イオン線粒子線 2次イオン質量分析法隕石

酸素同位体比を利用した太陽系外物質の探査とその起源

Paper図書

圦本, 尚義, 筑波大学1991-1992<Y151-H03640666>

National Diet Library

Subject Heading隕石白色包有物酸素同位体 2次イオン質量分析法負重イオン

高速重イオンの電子的スパツタリングによるクラスター粒子生成機構の解明と応用

Paper図書

今西, 信嗣, 京都大学1997-1999<Y151-H09480099>

National Diet Library

Subject Heading電子的スパツタリング重イオンビームクラスターイオン放出収率放出角度分布 2次イオン初期エネルギー飛行時間測定照射効果

多価重イオン照射による酸化物超伝導体のスパツタリングの研究

Paper図書

寺澤, 倫孝, 姫路工業大学1996-1997<Y151-H08044166>

National Diet Library

Subject Heading多価重イオン 2次イオンスパツタリング飛行時間測定法酸化物超伝導体固体表面 ...

鉱物・岩石中の軽元素の存在状態とその挙動の研究

Paper図書

末野, 重穂, 筑波大学1985-1988<Y151-S60430015>

National Diet Library

Subject Heading2次イオン質量分析法定量分析分配係数拡散係数水素酸素ほう素

酸化物イオン導電性化合物における格子欠陥の相互作用と導電機構の解明

Paper図書

笛木, 和雄, 東京大学1985-1986<Y151-S60470079>

National Diet Library

Subject Heading酸化物イオン導電体欠陥平衡相互作用導電率核磁気共鳴 2次イオン質量分析プロトン導電体

The wettability and reaction of liquid silicon to various refractory materials

Digital文書・図像類

寺嶋, 一高, 松本, 健, 西村, 鈴香, 正木, 匡彦, 伊丹, 俊夫, Terashima, Kazutaka, Matsumoto, Takeshi, Nishimura, Suzuka, Masaki, Tadahiko, Itami, Toshio宇宙開発事業団2001-03-01宇宙開発事業団技術報告 = NASDA Technical Memorandump.125-129

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Subject Heading...リコン融液接触角 SIMS 2次イオン質量分析ほう素原子固溶限界 liquid silicon...
Note (General)...ぼ定値に達することが分かった。2次イオン質量分析(SIMS)の結果は、ほう素原子が1.5×10(ex...

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