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システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究
システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究
紙
図書
藤原秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学 [著]
[藤原秀雄]
2003-2006
<Y151-H15300018>
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00110826
00694231
ディジタルシステムの設計とテスト
ディジタルシステムの設計とテスト
紙
図書
藤原秀雄 著
工学図書
2004.5
<M154-H208>
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00110826
上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究
上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究
紙
図書
藤原, 秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学
1997-2000
<Y151-H09480054>
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00110826
コンピュータ設計概論
コンピュータ設計概論
紙
図書
藤原秀雄 著
工学図書
1998.10
<M154-G812>
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00110826
大規模論理回路のテスト生成のための並列処理に関する研究
大規模論理回路のテスト生成のための並列処理に関する研究
紙
図書
藤原, 秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学
1994-1995
<Y151-H06680322>
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00110826
大規模論理回路のテスト生成のためのニユーラルネツトワークに関する研究
大規模論理回路のテスト生成のためのニユーラルネツトワークに関する研究
紙
図書
藤原, 秀雄, 明治大学
1991-1992
<Y151-H03650312>
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00110826
コンピュータの設計とテスト
コンピュータの設計とテスト
紙
デジタル
図書
藤原秀雄 著
工学図書
1990.8
<M154-E403>
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00110826
Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara. (MIT Press series in computer systems)
Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara. (MIT Press series in computer systems)
紙
図書
MIT Press
c1985.
<ND386-A6>
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00110826
ディジタル回路の故障診断 上
ディジタル回路の故障診断 上
紙
デジタル
図書
樹下行三, 藤原秀雄 共著
工学図書
1983.1
<ND386-298>
インターネットで読める
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00031441
00110826
論理数学の基礎
論理数学の基礎
紙
デジタル
図書
尾崎弘, 藤原秀雄 共著
オーム社
1980.10
<ND386-240>
インターネットで読める
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00064056
00110826
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