国立国会図書館サーチ(NDL SEARCH)
メニューを開く
検索
ヘルプ
ログイン
ヘルプ
ログイン
検索
絞り込み条件
絞り込み条件
図書館
項目を閉じる
国立国会図書館
全国の図書館
インターネットで閲覧できるものに絞る
タイトル
項目を閉じる
著者・編者
項目を閉じる
出版者
項目を閉じる
出版年(西暦)
項目を閉じる
年
〜
年
開く
1990年代
(2)
ISBN / ISSN
項目を閉じる
請求記号
項目を閉じる
資料種別
ヘルプページへのリンク
項目を閉じる
図書
(1)
雑誌
新聞
和古書・漢籍
博士論文
(1)
地図
楽譜
webサイト
電子書籍・電子雑誌
電子資料
映像資料
録音資料
規格・テクニカルリポート類
文書・図像類
すべて解除
雑誌記事等
資料形態
ヘルプページへのリンク
項目を閉じる
デジタル
(2)
紙
(2)
マイクロ
記録メディア
すべて解除
絞り込み条件
絞り込み条件
検索結果 2 件
20件ずつ表示
50件ずつ表示
100件ずつ表示
リスト表示
サムネイル表示
テーブル表示
適合度順
出版年:古い順
出版年:新しい順
タイトル:昇順
タイトル:降順
著者:昇順
著者:降順
請求記号順
タイトルでまとめる
一括お気に入り
Interfacial layers of high-barrier Schottky diode of Al/n-type (100)Si exposed to H[2] plasma
Interfacial layers of high-barrier Schottky diode of Al/n-type (100)Si exposed to H[2] plasma
紙
デジタル
博士論文
障害者向け資料あり
岩黒弘明 [著]
<UT51-94-P493>
インターネットで読める
国立国会図書館
著者標目(識別子)
00264647
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
紙
デジタル
図書
黒田司, 岩黒弘明 著
リアライズ社
1992.2
<ND371-E138>
国立国会図書館
全国の図書館
著者標目(識別子)
00038200
00264647
検索結果は以上です。
書誌情報を一括出力