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A unified approach for timing verification and delay fault testing
A unified approach for timing verification and delay fault testing
紙
図書
Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas
Kluwer Academic
c1998
全国の図書館
著者標目
Sivaraman, Mukund
Strojwas, Andrzej J.
VLSI design for manufacturing : yield enhancement
VLSI design for manufacturing : yield enhancement
紙
図書
by Stephen W. Director, Wojciech Maly, Andrzej J. Strojwas
Kluwer Academic Publishers
c1990
全国の図書館
著者標目
Maly, W.
Strojwas, Andrzej J.
Director, Stephen W.
Selected papers on statistical design of integrated circuits
Selected papers on statistical design of integrated circuits
紙
図書
edited by Andrzej J. Strojwas
IEEE Press
c1987
全国の図書館
著者標目
Strojwas, Andrzej J.
Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987
Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987
紙
図書
edited by Will Moore, Wojciech Maly, and Andrzej Strojwas
A. Hilger
c1988
全国の図書館
著者標目
Moore, Will Maly, W.
Strojwas, Andrzej J.
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