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波形計測によるX線半導体検出器の高精度検出時刻測定
波形計測によるX線半導体検出器の高精度検出時刻測定
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木村吉秀, 大阪大学 [著]
[木村吉秀]
2001-2002
<Y151-H13650052>
国立国会図書館
件名
コインシデンス / 透過型電子顕微鏡 / 半導体X線検出器 / 波形計測 / 波形推定 / 検出時刻精度 / SDD X線検出器
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