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上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究
上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究
紙
図書
藤原, 秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学
1997-2000
<Y151-H09480054>
国立国会図書館
件名
テスト容易化設計 テスト容易化合物 高位合成 VLSIテスト
データフローグラフ
レジスタ転送レベル データパス コントローラ
大規模再構成可能データパスプロセッサの設計手法
大規模再構成可能データパスプロセッサの設計手法
デジタル
文書・図像類
本田, 宏明, Mehdipour, Farhad, 片岡, 広志, 井上, 弘士, 村上, 和彰
情報処理学会
2009-02-19
情報処理学会研究報告, 2009-ARC-182
2009 14
p.97-102
インターネットで読める
全国の図書館
件名
... 大規模再構成可能データパス
データフローグラフ
アーキテクチャ設計
階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究
階層テスト生成に基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究
デジタル
博士論文
永井, 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学
2003-03-24
全国の図書館
件名
レジスタ転送レベル テスト容易化設計 固定制御可検査性 階層テスト生成
データフローグラフ
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