瀬山, 春彦, 国立環境研究所2001-2002<Y151-H13680613>
国立国会図書館
- 件名ケイ酸塩鉱物 風化 酸溶解 X線光電子分光法 二次イオン質量分析法 表面分析
圦本, 尚義, 東京工業大学1998-2000<Y151-H10354008>
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- 件名同位体分析 荷電粒子検出器 半導体センサー 質量分析法 二次イオン質量分析法 隕石
工藤, 正博, 成蹊大学1996-1998<Y151-H08650965>
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- 件名二次イオン質量分析法 (SIMS) 飛行時間型 (TOF) SIMS 表面化学構...
二瓶, 好正, 東京大学1994-1996<Y151-H06555254>
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- 件名二次イオン質量分析法 オージエ電子分光法 収束イオンビーム 三次元元素分析 微粒...
成島, 尚之, 東北大学1994-1995<Y151-H06650770>
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- 件名二次イオン質量分析法 炭化ケイ素 窒化ケイ素 高温酸化 クリストバライト トリジ...
二瓶, 好正, 東京大学1999-2000<Y151-H11555226>
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- 件名超細束イオンビーム ガリウム収束イオンビーム 二次イオン質量分析法 ナノスケール三次元分析法 高空間分解能元素分布解析 機能性...