山田, 良穂, 金沢大学1989-1990<Y151-H01550056>
国立国会図書館
- 件名高分子薄膜 RFスパツタリング AE信号 ESCA 引っかき試験 摩擦耐久性 引っ張り法 付着強度
久門, 輝正, 群馬大学1988-1989<Y151-S63550114>
国立国会図書館
- 件名AE振幅分布 AE平均RMS値 AEリングダウン数 トライボロジー セラミツクス デイスク 引っかき試験 垂直荷重 摩擦損傷
山田, 良穂, Yamada, Yoshinori1991-03-01平成2(1990)年度 科学研究費補助金 一般研究(C) 研究成果報告書 = 1990 Fiscal Year Final Research Report1989-1990p.108p.-
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- 件名高分子薄膜 RFスパッタリング AE信号 ESCA 引っかき試験 摩擦耐久性 引っ張り法 付着強度 Thin polymer...
- 一般注記...度の検討のために定荷重繰り返し引っかき試験、および荷重一様増加形単一引っかき試験により、それぞれ膜の剥離の生じ......造であると推定される。(3)両引っかき試験において、膜の剥離損傷とAE信号、摩擦力の変動との対応関係が...