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超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究
超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究
紙
図書
高松雄三, 愛媛大学 [著]
[高松雄三]
2003-2005
<Y151-H15500043>
国立国会図書館
件名
故障検査 / 故障診断 / 組込み自己テスト /
縮退故障
/ ブリッジ故障 / クロストーク故障 / オープン故障 ...
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
デジタル
文書・図像類
大竹, 哲史
奈良先端科学技術大学院大学
2008
インターネットで読める
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件名
VLSIテスト テスト容易化設計
縮退故障
遅延故障 レジスタ転送レベル データパス 不均一ビット幅
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