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X線表面進行波を用いる極表面電子密度の"その場"測定法の開発
X線表面進行波を用いる極表面電子密度の"その場"測定法の開発
紙
図書
堀内, 俊寿, 京都大学
2001-2002
<Y151-H13450035>
国立国会図書館
件名
全反射X線 X線表面進行波
表面密度
金属酸化 水素終端シリコン X線異常散乱 吸収端 光触媒
極最表面分析を目的とした斜入射・斜出射蛍光X線分析装置の開発
極最表面分析を目的とした斜入射・斜出射蛍光X線分析装置の開発
紙
図書
辻, 幸一, 東北大学
1995-1996
<Y151-H07555260>
国立国会図書館
件名
X線全反射 蛍光X線 表面分析 薄膜分析
表面密度
深さ方向分析 斜入射斜出射
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