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検索結果 3 件

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法
デジタル博士論文障害者向け資料あり
Shih, Hong-An2014-09
国立国会図書館
  • 件名wide-gap MIS devices C-V characteristics frequency dispersion C-f-T ma...

SiCパワートランジスタのC-V測定に基づく電力変換回路のための特性評価

SiCパワートランジスタのC-V測定に基づく電力変換回路のための特性評価
デジタル博士論文
パンコーン, ナタパット京都大学 (Kyoto University)2010-09-24
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名SiC MOSFET JFET C-V characteristics Switching behavior Device str...

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法

容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法
デジタル博士論文
Shih, Hong-An2014-09
インターネットで読める全国の図書館
  • 件名wide-gap MIS devices C-V characteristics frequency dispersion C-f-T ma...

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