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半導体材料の中性子照射効果ミクロダイナミクスの研究
半導体材料の中性子照射効果ミクロダイナミクスの研究
紙
図書
飯田, 敏行, 大阪大学
1996-1997
<Y151-H08680525>
国立国会図書館
件名
中性子照射効果 照射効果ダイナミクス Si半導体素子 CCDカメラ素子 表面障壁型半導体検出器
DT-DD中性子損傷相関
荷電粒子輸送コードTRIM 分子動力学コード
半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究
半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究
紙
図書
飯田, 敏行, 大阪大学
1993-1995
<Y151-H05558068>
国立国会図書館
件名
CMOS・SRAM素子 中性子誘起ソフトエラー Si (n, α) Mg反応 ビツトソフトエラー断面積 極細イオンビーム源 Si-SSD素子 TRIMコード
DT-DD中性子損傷相関
半導体結晶の中性子照射損傷ダイナミクスの研究
半導体結晶の中性子照射損傷ダイナミクスの研究
紙
図書
飯田, 敏行, 大阪大学
1994-1995
<Y151-H06680469>
国立国会図書館
件名
Si-SSD素子
DT-DD中性子損傷相関
原子弾き出し効果 中性子照射損傷 中性子誘起ソフトエラー ...
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