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デジタル博士論文障害者向け資料あり
国立国会図書館
- 件名Interface traps, oxide border traps, MOS, multi-gate structure, high-k/III-V, AlGaN/GaN HEMT
デジタル博士論文
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- 件名Interface traps, oxide border traps, MOS, multi-gate structure, high-k/III-V, AlGaN/GaN HEMT
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- 件名AlGaN GaN HEMT 1 f雑音 表面保護膜 PECVD スパッタ 1/f no...
- 並列タイトル等(連結)Surface passivation dependency of 1/f noise characterization in AlGaN/GaN HEMT
- 並列タイトル等Surface passivation dependency of 1/f noise characterization in AlGaN/GaN HEMT
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