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検索結果 2 件

ＬＳＩ歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究

ＬＳＩ歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
デジタル文書・図像類
温, 暁青九州工業大学2007-05
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  • 件名LST Testing Power Aware Testing DFT Fault Diagnosis Low Power Testing

Studies on defect level and diagnosis for built-in self test architecture

Studies on defect level and diagnosis for built-in self test architecture
デジタル博士論文
中村, 芳行Nara Institute of Science and Technology2006-03-24
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  • 件名built-in self test fault coverage defect level fault diagnosis error identification at-speed...

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