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LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
デジタル
文書・図像類
温, 暁青
九州工業大学
2007-05
全国の図書館
件名
LST Testing Power Aware Testing DFT Fault Diagnosis
Low Power Testing
Studies on power constrained test techniques for VLSI circuits
Studies on power constrained test techniques for VLSI circuits
デジタル
博士論文
尤, 志強
Nara Institute of Science and Technology
2006-03-24
全国の図書館
件名
...t-in self-test
low power testing
test scheduling full scan tes...
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