本文に飛ぶ

年 〜
年

検索結果 2 件

Failure analysis of a half-micron CMOS IC technology SAND-96-2216C DE96 015013 CONF-9611803

Failure analysis of a half-micron CMOS IC technology SAND-96-2216C DE96 015013 CONF-9611803
マイクロ規格・テクニカルリポート類
Liang, A. Y, Tangyunyong, P, Bennett, R. S, Flores, R. S1996<LS-DE96/015013>
国立国会図書館

FAILURE ANALYSIS OF A HALF-MICRON CMOS IC TECHNOLOGY (SAND ; SAND-96-2216C)

FAILURE ANALYSIS OF A HALF-MICRON CMOS IC TECHNOLOGY (SAND ; SAND-96-2216C)
紙図書
LIANG,A.Y. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (UNITED STATES).)Sandia National Laboratories(Sandia National Laboratories)1996.
全国の図書館

検索結果は以上です。

RSS