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Single event gate rupture in thin gate oxides SAND-97-0426C DE97 003202 CONF-97071111

Single event gate rupture in thin gate oxides SAND-97-0426C DE97 003202 CONF-97071111
マイクロ規格・テクニカルリポート類
Sexton, F. W, Fleetwood, D. M, Shaneyfelt, M. R, Dodd, P. E, Hash, G. L1997<LS-DE97/003202>
国立国会図書館

SINGLE EVENT GATE RUPTURE IN THIN GATE OXIDES (SAND ; SAND-97-0426C)

SINGLE EVENT GATE RUPTURE IN THIN GATE OXIDES (SAND ; SAND-97-0426C)
紙図書
F. W. SEXTON//ET AL. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM)Sandia National Laboratories(Sandia National Laboratories)1997.
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