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半導体パッケージ基板用無電解Ni/Pd/Auめっき技術(第1報)はんだボール接続信頼性に及ぼす無電解Niめっき膜厚の影響

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半導体パッケージ基板用無電解Ni/Pd/Auめっき技術(第1報)はんだボール接続信頼性に及ぼす無電解Niめっき膜厚の影響

国立国会図書館請求記号
Z74-B258
国立国会図書館書誌ID
023436350
資料種別
記事
著者
江尻 芳則ほか
出版者
東京 : エレクトロニクス実装学会
出版年
2012-01
資料形態
掲載誌名
エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 15(1)=98:2012.1
掲載ページ
p.82-95
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
江尻 芳則
櫻井 健久
荒山 貴慎 他
並列タイトル等
Electroless Ni/Pd/Au Plating for Semiconductor Package Substrates (1) Influence of the Electroless Ni Plating Thickness on the Solder Ball Joint Reliability
タイトル(掲載誌)
エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
巻号年月日等(掲載誌)
15(1)=98:2012.1
掲載巻
15
掲載号
1
掲載通号
98