PWBにおけるIVHの熱疲労寿命に及ぼすFR-4の積層構造の不均質性の影響(第1報)冷熱サイクル試験と有限要素法解析を用いた寿命の変動要因の検討

• 資料種別: 記事
• タイトル: PWBにおけるIVHの熱疲労寿命に及ぼすFR-4の積層構造の不均質性の影響(第1報)冷熱サイクル試験と有限要素法解析を用いた寿命の変動要因の検討
• 著者・編者: 竹中 国浩; 于 強
• 著者標目: 竹中 国浩; 于 強
• 並列タイトル等: Effect of Heterogeneity of Laminated Structure in FR-4 on Thermal Fatigue Life of Interstitial Via Hole in Printed Wiring Board (First Report) Investigation of Variation Factors of Life Using Thermal Cycling Test and Finite Element Analysis
• タイトル（掲載誌）: エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
• 巻号年月日等（掲載誌）: 16(2)=106:2013.3
• 掲載巻: 16
• 掲載号: 2
• 掲載通号: 106
• 掲載ページ: 106-118
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2013-03
• ISSN（掲載誌）: 1343-9677
• ISSN-L（掲載誌）: 1343-9677
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : エレクトロニクス実装学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Interstitial Via Hole; Printed Wiring Board; Thermal Fatigue Life; Variation Factor; Finite Element Method; FR-4
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z74-B258
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024319377; http://id.ndl.go.jp/bib/024319377
• 整理区分コード: 632