走査型プローブ顕微鏡データマネジメントの標準化(小特集走査型プローブ顕微鏡によるナノ計測法の標準化)

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資料種別: 記事
タイトル: 走査型プローブ顕微鏡データマネジメントの標準化
著者・編者: 藤田大介
シリーズタイトル: 小特集走査型プローブ顕微鏡によるナノ計測法の標準化
著者標目: 藤田大介
並列タイトル等: Standardization of Data Management and Treatment for Scanning Probe Microscopy
タイトル（掲載誌）: Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空
巻号年月日等（掲載誌）: 56(7):2013.7
掲載巻: 56
掲載号: 7
掲載ページ: 252-257
掲載年月日（W3CDTF）: 2013-07
ISSN（掲載誌）: 1882-2398
ISSN-L（掲載誌）: 1882-2398
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本真空協会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN15
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-474
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024760292
http://id.ndl.go.jp/bib/024760292
整理区分コード: 632