少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法の提案

• 資料種別: 記事
• タイトル: 少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法の提案
• 著者・編者: 大賀 健司; 姚 駿; 中田 尚 他
• シリーズタイトル: ユビキタスコンピューティングシステム(UBI) Vol.2010-UBI-25
• 著者標目: 大賀 健司; 姚 駿; 中田 尚
• 並列タイトル等: Designing a Dependability Evaluation Method for Logic Circuits Using Highly Reliable Cells
• タイトル（掲載誌）: 情報処理学会研究報告
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2009年度(6) 2010.4
• 掲載巻: 2009年度
• 掲載号: 6
• 掲載ページ: 1-8
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2010-04
• ISSN（掲載誌）: 2186-2583
• ISSN-L（掲載誌）: 2186-2583
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 情報処理学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM13
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YH267-101
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025101800; http://id.ndl.go.jp/bib/025101800
• 整理区分コード: 632