雑誌顕微鏡
転位組織解析のための...

転位組織解析のためのSEM-ECCI法の応用

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転位組織解析のためのSEM-ECCI法の応用

国立国会図書館請求記号
Z16-896
国立国会図書館書誌ID
025156330
資料種別
記事
著者
杉山 昌章ほか
出版者
東京 : 日本顕微鏡学会
出版年
2013
資料形態
掲載誌名
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 48(3):2013
掲載ページ
p.216-220
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
杉山 昌章
重里 元一
並列タイトル等
Application of Electron Channeling Contrast Imaging in a Scanning Electron Microscope for Dislocation Analysis
タイトル(掲載誌)
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
48(3):2013
掲載巻
48
掲載号
3
掲載ページ
216-220