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Frequency Dependence of the Defect Sensitivity of Guided Wave Testing for Efficient Defect Detection at Pipe Elbows

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Frequency Dependence of the Defect Sensitivity of Guided Wave Testing for Efficient Defect Detection at Pipe Elbows

国立国会図書館請求記号
Z53-J286
国立国会図書館書誌ID
027195101
資料種別
記事
著者
Toshihiro Yamamotoほか
出版者
Sendai : The Japan Institute of Metals and Materials ; 2001-
出版年
2016-03
資料形態
掲載誌名
Materials transactions 57(3):2016.3
掲載ページ
p.397-403
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
Toshihiro Yamamoto
Takashi Furukawa
Hideo Nishino
タイトル(掲載誌)
Materials transactions
巻号年月日等(掲載誌)
57(3):2016.3
掲載巻
57
掲載号
3
掲載ページ
397-403
掲載年月日(W3CDTF)
2016-03