オペランド硬X線光電子分光法によるSiO₂/4H-SiC界面の界面準位のエネルギー分布観測 (第36回表面科学学術講演会特集号(1))
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 山下 良之蓮沼 隆長田 貴弘知京 豊祐
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Direct Observation of the Energy Distribution of Interface States at SiO₂/4H-SiC Interface : Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Study
- タイトル（掲載誌）
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 38(7):2017.7
- 掲載巻
- 38
- 掲載号
- 7