Sn-Ag-Bi-In-Cu系はんだの接合信頼性に及ぼす熱サイクル負荷とSb添加の影響

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Sn-Ag-Bi-In-Cu系はんだの接合信頼性に及ぼす熱サイクル負荷とSb添加の影響

国立国会図書館請求記号
Z16-1617
国立国会図書館書誌ID
028549568
資料種別
記事
著者
三原 一樹ほか
出版者
東京 : エレクトロニクス実装学会
出版年
2017-08
資料形態
掲載誌名
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 27:2017.8.29・30
掲載ページ
p.157-160
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
三原 一樹
日根 清裕
酒谷 茂昭
秋山 真之介
上西 啓介
並列タイトル等
The Effect of Thermal Cycle and Addition of Sb on Joint Reliability of Sn-Ag-Bi-In-Cu Solder
タイトル(掲載誌)
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
巻号年月日等(掲載誌)
27:2017.8.29・30
掲載巻
27
掲載ページ
157-160
掲載年月日(W3CDTF)
2017-08