IGBTの損失低減及びターンオフ耐量向上の推移と、高速ターンオフによる更なる損失低減と不都合なダイナミックアバランシェ発生のトレードオフ

• 資料種別: 記事
• タイトル: IGBTの損失低減及びターンオフ耐量向上の推移と、高速ターンオフによる更なる損失低減と不都合なダイナミックアバランシェ発生のトレードオフ
• 著者・編者: 戸倉 規仁
• シリーズタイトル: 電子デバイス 半導体電力変換合同研究会 パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術
• 著者標目: 戸倉 規仁
• 並列タイトル等: Trends of reducing power-loss and improving turn-off endurance of IGBTs, and trade-off between further reduction of power-loss and undesirable dynamic avalanche occurrence by faster turn-off operation
• タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2017(74-86):2017.11.21
• 掲載巻: 2017
• 掲載号: 74-86
• 掲載ページ: 13-20
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2017-11-21
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: IGBT; トレンチゲート; 損失; ターンオフ損失; ターンオフ耐量; ダイナミックアバランシェ; RBSOA; trench gate; power-loss; turn-off loss; turn-off endurance; dynamic avalanche
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EDD-17-76
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z43-225
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028711598; http://id.ndl.go.jp/bib/028711598
• 整理区分コード: 632