雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号118(1)-118(18):2018.4.6-2018.4.27 (Web掲載118(4-8),118(12),118(16-17),118(19-23))
記事白色干渉計を用いた光...

白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス (ハードウェアセキュリティ)

記事を表すアイコン

白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス

(ハードウェアセキュリティ)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028975966
資料種別
記事
著者
吉田 直樹ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2018-04-13
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(3):2018.4.13
掲載ページ
p.11-16
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

連携機関・データベースの一覧

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    紙
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
    この本の所蔵を確認

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別
記事
タイトル
白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス
著者・編者
吉田 直樹
上羽 陽介
西尾 俊平
大八木 康之
法元 盛久
竪 直也
成瀬 誠
松本 勉
シリーズタイトル
ハードウェアセキュリティ
著者標目
吉田 直樹
上羽 陽介
西尾 俊平
大八木 康之
法元 盛久
竪 直也
成瀬 誠
松本 勉
並列タイトル等
Optical 3D Nano Artifact-metrics using White Light Interferometry
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
118(3):2018.4.13
掲載巻
118
掲載号
3