Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル (エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ)

Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル

(エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 029143936

資料種別: 記事

著者: 山口裕太郎ほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2018-07

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(144):2018.7.19・20

掲載ページ: p.125-130

すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

連携機関・データベースの一覧

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別: 記事
タイトル: Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル
著者・編者: 山口裕太郎
大塚友絢
半谷政毅
新庄真太郎
大石敏之
シリーズタイトル: エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ
著者標目: 山口裕太郎
大塚友絢
半谷政毅
新庄真太郎
大石敏之
並列タイトル等: A Ka-band GaN Large-Signal Model Considering Trap Effect on Non-linear Capacitance by Using Transient S-parameters Measurement
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 118(144):2018.7.19・20
掲載巻: 118
掲載号: 144
掲載ページ: 125-130
掲載年月日（W3CDTF）: 2018-07
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: GaN
HEMT
Ka-band
Large-Signal
Model
Trap
Transient response
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: EST2018-28
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 029143936
http://id.ndl.go.jp/bib/029143936
整理区分コード: 632