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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Volume number118(144):2018.7.19・20
ArticleSパラメータ過渡応答...

Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル (エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ)

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Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル

(エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
029143936
Material type
記事
Author
山口 裕太郎ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2018-07
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(144):2018.7.19・20
Publication Page
p.125-130
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Paper

Material Type
記事
Title
Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル
Author/Editor
山口 裕太郎
大塚 友絢
半谷 政毅
新庄 真太郎
大石 敏之
Series Title
エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ
Author Heading
山口 裕太郎
大塚 友絢
半谷 政毅
新庄 真太郎
大石 敏之
Alternative Title
A Ka-band GaN Large-Signal Model Considering Trap Effect on Non-linear Capacitance by Using Transient S-parameters Measurement
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
118(144):2018.7.19・20
Volume
118
Issue
144