マルチチャネルADCを用いたフルディジタル位相雑音計測におけるサンプリングクロックの位相雑音除去量に関する検討 (計測研究会温度計測及び一般)

マルチチャネルADCを用いたフルディジタル位相雑音計測におけるサンプリングクロックの位相雑音除去量に関する検討

(計測研究会温度計測及び一般)

掲載誌名: 電気学会研究会資料. IM = The papers of technical meeting on instrumentation and measurement, IEE Japan / 計測研究会 [編] 2020(8-16):2020.3.27

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資料種別: 記事
タイトル: マルチチャネルADCを用いたフルディジタル位相雑音計測におけるサンプリングクロックの位相雑音除去量に関する検討
著者・編者: 芹澤竜己
今池健
シリーズタイトル: 計測研究会温度計測及び一般
著者標目: 芹澤竜己
今池健
並列タイトル等: Study on Phase Noise Rejection Quantity of Sampling Clock in Fully Digital Phase Noise Measurement System using Multi Channel ADCs
タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. IM = The papers of technical meeting on instrumentation and measurement, IEE Japan / 計測研究会 [編]
巻号年月日等（掲載誌）: 2020(8-16):2020.3.27
掲載巻: 2020
掲載号: 8-16
掲載ページ: 1-4
掲載年月日（W3CDTF）: 2020-03-27
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: 位相雑音計測
減算処理
サンプリングクロック
phase noise measurement
subtraction process
sampling clock
NDLC: ZN31
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: IM-20-008
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z43-232
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 030371835
http://id.ndl.go.jp/bib/030371835
整理区分コード: 632