X線光電子分光における時空間計測/解析技術の開発 : NAP-HARPESから4D-XPSへ(特集 Society 5.0時代を創出する異種材料集積半導体デバイス)

• 資料種別: 記事
• タイトル: X線光電子分光における時空間計測/解析技術の開発 : NAP-HARPESから4D-XPSへ
• 著者・編者: 豊田 智史; 山本 知樹; 吉村 真史; 住田 弘祐; 三根生 晋; 町田 雅武; 吉越 章隆; 鈴木 哲; 横山 和司; 大橋 雄二; 黒澤 俊介; 鎌田 圭; 佐藤 浩樹; 山路 晃広; 吉野 将生 他
• シリーズタイトル: 特集 Society 5.0時代を創出する異種材料集積半導体デバイス
• 著者標目: 豊田 智史; 山本 知樹; 吉村 真史; 住田 弘祐; 三根生 晋; 町田 雅武; 吉越 章隆; 鈴木 哲; 横山 和司; 大橋 雄二; 黒澤 俊介; 鎌田 圭; 佐藤 浩樹; 山路 晃広; 吉野 将生
• 並列タイトル等: Development of Spatiotemporal Measurement and Analysis Techniques in X-ray Photoelectron Spectroscopy : From NAP-HARPES to 4D-XPS
• タイトル（掲載誌）: 表面と真空 = Vacuum and surface science / 日本表面科学会, 日本真空学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 64(2):2021.2
• 掲載巻: 64
• 掲載号: 2
• 掲載ページ: 86-91
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2021-02
• ISSN（掲載誌）: 2433-5835
• ISSN-L（掲載誌）: 2433-5835
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本表面科学会 ; 2018-
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: x-ray photoelectron spectroscopy; NAP-HARPES; 4D-XPS; sparse modeling; Jackknife MEM
• NDLC: ZN15
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-474
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031304405; http://id.ndl.go.jp/bib/031304405
• 整理区分コード: 632