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モノクロメーター搭載STEM-EELSによる局所電子状態分析

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モノクロメーター搭載STEM-EELSによる局所電子状態分析

国立国会図書館請求記号
Z16-896
国立国会図書館書誌ID
031699908
資料種別
記事
著者
治田 充貴ほか
出版者
東京 : 日本顕微鏡学会
出版年
2021
資料形態
掲載誌名
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 56(2):2021
掲載ページ
p.73-80
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
治田 充貴
倉田 博基
並列タイトル等
Local Electronic State Analysis by Monochromated STEM-EELS
タイトル(掲載誌)
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
56(2):2021
掲載巻
56
掲載号
2
掲載ページ
73-80