計測環境が二次電子放出係数に与える影響 (誘電・絶縁材料/放電・プラズマ・パルスパワー/高電圧合同研究会・放電・プラズマ・パルスパワー,高電圧,誘電・絶縁材料)

計測環境が二次電子放出係数に与える影響

(誘電・絶縁材料/放電・プラズマ・パルスパワー/高電圧合同研究会・放電・プラズマ・パルスパワー,高電圧,誘電・絶縁材料)

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資料種別: 記事
タイトル: 計測環境が二次電子放出係数に与える影響
著者・編者: 劔持祥星
三宅弘晃
田中康寛
シリーズタイトル: 誘電・絶縁材料/放電・プラズマ・パルスパワー/高電圧合同研究会・放電・プラズマ・パルスパワー,高電圧,誘電・絶縁材料
著者標目: 劔持祥星
三宅弘晃
田中康寛
並列タイトル等: Effect of Measurement Environment on Secondary Electron Emission Yield
タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. DEI
巻号年月日等（掲載誌）: 2024(1-12):2024.1.19
掲載巻: 2024
掲載号: 1-12
掲載ページ: 13-17
掲載年月日（W3CDTF）: 2024-01-19
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN31
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: DEI-24-003
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z43-227
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 033323708
http://id.ndl.go.jp/bib/033323708
整理区分コード: 632