CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 小野 安季良一宮 正博四柳 浩之 他
- 並列タイトル等
- Open lead detection method by sensing the switching current of CMOS gate on sensing probe
- タイトル（掲載誌）
- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 12(2) (通号 78) 2009.3
- 掲載巻
- 12
- 掲載号
- 2
- 掲載通号
- 78