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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
109(88)-109(97):2009.6.18-2009.6.26
記事
AFM探針スクラッチ...
AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化 (機構デバイス)
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AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化
(機構デバイス)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10274208
資料種別
記事
著者
菅沼 秀教ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-06-19
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109(89) 2009.6.19
掲載ページ
p.7~10
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化
著者・編者
菅沼 秀教
チャン キョンミン
山田 努 他
シリーズタイトル
機構デバイス
著者標目
菅沼 秀教
チャン キョンミン
山田 努
並列タイトル等
Constriction of ferromagnetic patterned thin film by nano scratching using AFM cantilever
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
109(89) 2009.6.19
掲載巻
109
掲載号
89
掲載ページ
7~10
掲載年月日(W3CDTF)
2009-06-19
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
Atomic force microscope
ferromagnetic thin film
nanolithography
nano-junction
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
EMD2009-15
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
10274208
http://id.ndl.go.jp/bib/10274208
整理区分コード
632
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