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目次
109(94) 2009.6.19
- 信頼性
p.1~28
- X線透視による新しい故障解析技術の研究 (信頼性)
p.13~18
109(97) 2009.6.24-26
- Electron devices
p.1~222
109(90) 2009.6.19
- 電子部品・材料
p.1~38
109(89) 2009.6.19
- 機構デバイス
p.1~38
109(88) 2009.6.18・19
- パターン認識・メディア理解
p.1~124
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0913-5685
- ISSN-L
- 0913-5685
- タイトルよみ
- デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ギジュツ ケンキュウ ホウコク : シンガク ギホウ
- 巻次・部編番号
- 109(88)-109(97):2009.6.18-2009.6.26
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2009
- 出版年(W3CDTF)
- 2009