AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化

• 資料種別: 記事
• タイトル: AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化
• 著者・編者: 菅沼 秀教; チャン キョンミン; 山田 努 他
• シリーズタイトル: 有機エレクトロニクス
• 著者標目: 菅沼 秀教; チャン キョンミン; 山田 努
• 並列タイトル等: Constriction of ferromagnetic patterned thin film by nano scratching using AFM cantilever
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 109(91) 2009.6.19
• 掲載巻: 109
• 掲載号: 91
• 掲載ページ: 7～10
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2009-06-19
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Atomic force microscope; ferromagnetic thin film; nanolithography; nano-junction
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: OME2009-22
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 10274249; http://id.ndl.go.jp/bib/10274249
• 整理区分コード: 632