平面型トランジスタ,SGTを用いたスタンダードセルのパターン面積の比較検討

• 資料種別: 記事
• タイトル: 平面型トランジスタ,SGTを用いたスタンダードセルのパターン面積の比較検討
• 著者・編者: 小玉 貴大; 渡辺 重佳
• シリーズタイトル: シリコン材料・デバイス
• 著者標目: 小玉 貴大; 渡辺 重佳
• 並列タイトル等: Study of pattern area reduction for standard cell with planar and SGT transistor
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 111(187) 2011.8.25・26
• 掲載巻: 111
• 掲載号: 187
• 掲載ページ: 7～12
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2011-08
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: SGT; システムLSI; デザインルール; パターン面積; スタンダードセル; system LSI; design rule; pattern area; standard cell
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: SDM2011-72
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 11238753; http://id.ndl.go.jp/bib/11238753
• 整理区分コード: 632