解説 走査トンネル顕微鏡,原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析 (小特集 表面における水素分析)
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 高萩 隆行坂上 弘之
- シリーズタイトル
- タイトル（掲載誌）
- 真空 = Journal of the Vacuum Society of Japan
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 42(10) 1999.10
- 掲載巻
- 42
- 掲載号
- 10
- 掲載ページ
- 886～891