Plasmon-loss imaging of chains of crystalline-silicon nanospheres and silicon nanowires (Recent Development in the Electron Microscopy of Semiconductors)

Plasmon-loss imaging of chains of crystalline-silicon nanospheres and silicon nanowires

(Recent Development in the Electron Microscopy of Semiconductors)

国立国会図書館請求記号: Z53-T76
国立国会図書館書誌ID: 5363407

資料種別: 記事

著者: Hideo Kohnoほか

出版者: Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

出版年: 2000

資料形態: 紙

掲載誌名: Journal of electron microscopy 49(2) 2000

掲載ページ: p.275～280

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紙

資料種別: 記事
タイトル: Plasmon-loss imaging of chains of crystalline-silicon nanospheres and silicon nanowires
著者・編者: Hideo Kohno
Seiji Takeda
Koji Tanaka
シリーズタイトル: Recent Development in the Electron Microscopy of Semiconductors
著者標目: Hideo Kohno
Seiji Takeda
Koji Tanaka
タイトル（掲載誌）: Journal of electron microscopy
巻号年月日等（掲載誌）: 49(2) 2000
掲載巻: 49
掲載号: 2
掲載ページ: 275～280
掲載年月日（W3CDTF）: 2000
ISSN（掲載誌）: 0022-0744
出版事項（掲載誌）: Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press
出版地（国名コード）: GB
本文の言語コード: eng
件名標目: chains of silicon nanospheres
silicon nanowires
energy-filtered TEM
EELS
plasmon-loss imaging
nanostructure
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z53-T76
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 5363407
http://id.ndl.go.jp/bib/5363407
整理区分コード: 632