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重イオンによるマイクロ粒子励起X線(PIXE)分析法とその応用 (関西支部企画 特集「極微量物質の及ぼす影響とその評価」)

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重イオンによるマイクロ粒子励起X線(PIXE)分析法とその応用(関西支部企画 特集「極微量物質の及ぼす影響とその評価」)

国立国会図書館請求記号
Z16-474
国立国会図書館書誌ID
5593484
資料種別
記事
著者
杢野 由明ほか
出版者
東京 : 日本真空協会
出版年
2000-11
資料形態
掲載誌名
真空 = Journal of the Vacuum Society of Japan 43(11) 2000.11
掲載ページ
p.1036~1041
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
杢野 由明
堀野 裕治
タイトル(掲載誌)
真空 = Journal of the Vacuum Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
43(11) 2000.11
掲載巻
43
掲載号
11
掲載ページ
1036~1041