Gettering on Cavities Induced by Helium Implantation in Si: The Case of Boron

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Gettering on Cavities Induced by Helium Implantation in Si: The Case of Boron

国立国会図書館請求記号
Z53-A375
国立国会図書館書誌ID
6193736
資料種別
記事
著者
Daniel Alquierほか
出版者
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
出版年
2002-06
資料形態
デジタル
掲載誌名
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 41(6A) (通号 559) 2002.6
掲載ページ
p.3625~3628
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資料詳細

要約等:

In this paper, we shed light on the strong interaction between the cavity layer induced by helium implantation and boron. First, we present the impact...

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Daniel Alquier
Fabrice Roqueta
Laurent Ventura 他
タイトル(掲載誌)
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
巻号年月日等(掲載誌)
41(6A) (通号 559) 2002.6
掲載巻
41
掲載号
6A
掲載通号
559
掲載ページ
3625~3628