Ni-Znフェライトインダクタを集積したマイクロ電源のCMOS-IC負荷における電源ノイズに関する実験的検討

• 資料種別: 記事
• タイトル: Ni-Znフェライトインダクタを集積したマイクロ電源のCMOS-IC負荷における電源ノイズに関する実験的検討
• 著者・編者: 西島 健一; 佐藤 敏郎; 山沢 清人 他
• 著者標目: 西島 健一; 佐藤 敏郎; 山沢 清人
• タイトル（掲載誌）: 日本応用磁気学会誌
• 巻号年月日等（掲載誌）: 27(9) (通号 188) 2003
• 掲載巻: 27
• 掲載号: 9
• 掲載通号: 188
• 掲載ページ: 963～970
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2003
• ISSN（掲載誌）: 0285-0192
• ISSN-L（掲載誌）: 0285-0192
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本磁気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: micro dc-dc converter; conduction noise; CMOS-IC; amplitude modulation
• NDLC: ZM35
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-398
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10466378
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10466378; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10466378
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 6690377; http://id.ndl.go.jp/bib/6690377
• 整理区分コード: 632

• 要約等: This paper describes an experimental study of the conduction noise of a micro dc-dc converter during high-speed CMOS-logic IC loading. For comparison,...