Ni-Znフェライトインダクタを集積したマイクロ電源のCMOS-IC負荷における電源ノイズに関する実験的検討

• Material Type: 記事
• Title: Ni-Znフェライトインダクタを集積したマイクロ電源のCMOS-IC負荷における電源ノイズに関する実験的検討
• Author/Editor: 西島 健一; 佐藤 敏郎; 山沢 清人 他
• Author Heading: 西島 健一; 佐藤 敏郎; 山沢 清人
• Periodical title: 日本応用磁気学会誌
• No. or year of volume/issue: 27(9) (通号 188) 2003
• Volume: 27
• Issue: 9
• Sequential issue number: 188
• Pages: 963～970
• Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2003
• ISSN (Periodical Title): 0285-0192
• ISSN-L (Periodical Title): 0285-0192
• Publication (Periodical Title): 東京 : 日本磁気学会
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: micro dc-dc converter; conduction noise; CMOS-IC; amplitude modulation
• NDLC: ZM35
• Target Audience: 一般
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Z15-398
• Related Material (URI): http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10466378
• Related Material (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10466378; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10466378
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 6690377; http://id.ndl.go.jp/bib/6690377
• Bibliographic Record Category (NDL): 632

• Summary, etc.: This paper describes an experimental study of the conduction noise of a micro dc-dc converter during high-speed CMOS-logic IC loading. For comparison,...