Ga〔+〕一次イオン飛行時間型質量分析法における出現フラグメントパターンの規則性(特集:質量分析法の新展開)

• 資料種別: 記事
• タイトル: Ga〔+〕一次イオン飛行時間型質量分析法における出現フラグメントパターンの規則性
• 著者・編者: 高橋 元幾; 李 展平; 関谷 美矢子 他
• シリーズタイトル: 特集:質量分析法の新展開
• 著者標目: 高橋 元幾; 李 展平; 関谷 美矢子
• タイトル（掲載誌）: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 53(6) 2004.6
• 掲載巻: 53
• 掲載号: 6
• 掲載ページ: 503～518
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2004-06
• ISSN（掲載誌）: 0525-1931
• ISSN-L（掲載誌）: 0525-1931
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本分析化学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Ga〔+〕primaryionToF-SIMS; fragment pattern appearance regularity; metals; inorganic and organic compounds
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-9
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895783
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10895783; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895783
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 6992242; http://id.ndl.go.jp/bib/6992242
• 整理区分コード: 632

• 要約等: Ga^＋一次イオン飛行時間型質量分析法における金属，無機化合物そして有機化合物表面からのフラグメントパターン出現の規則性を検討している．金属表面からのフラグメントパターンはGa^＋一次イオン照射，粒子放出の間に金属がGaと合金生成を行っている可能性があることを...