Ga〔+〕一次イオン飛行時間型質量分析法における出現フラグメントパターンの規則性(特集:質量分析法の新展開)

• Material Type: 記事
• Title: Ga〔+〕一次イオン飛行時間型質量分析法における出現フラグメントパターンの規則性
• Author/Editor: 高橋 元幾; 李 展平; 関谷 美矢子 他
• Series Title: 特集:質量分析法の新展開
• Author Heading: 高橋 元幾; 李 展平; 関谷 美矢子
• Periodical title: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• No. or year of volume/issue: 53(6) 2004.6
• Volume: 53
• Issue: 6
• Pages: 503～518
• Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2004-06
• ISSN (Periodical Title): 0525-1931
• ISSN-L (Periodical Title): 0525-1931
• Publication (Periodical Title): 東京 : 日本分析化学会
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: Ga〔+〕primaryionToF-SIMS; fragment pattern appearance regularity; metals; inorganic and organic compounds
• NDLC: ZP4
• Target Audience: 一般
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Z17-9
• Related Material (URI): http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895783
• Related Material (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10895783; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895783
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 6992242; http://id.ndl.go.jp/bib/6992242
• Bibliographic Record Category (NDL): 632

• Summary, etc.: Ga^＋一次イオン飛行時間型質量分析法における金属，無機化合物そして有機化合物表面からのフラグメントパターン出現の規則性を検討している．金属表面からのフラグメントパターンはGa^＋一次イオン照射，粒子放出の間に金属がGaと合金生成を行っている可能性があることを...