Calculating the effective capacitance for interconnect loads based on thevenin model (VLSIのノイズ・タイミング解析)

Calculating the effective capacitance for interconnect loads based on thevenin model

(VLSIのノイズ・タイミング解析)

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資料種別: 記事
タイトル: Calculating the effective capacitance for interconnect loads based on thevenin model
著者・編者: Shuai Fang
Zhangcai Huang
Atsushi Kurokawa 他
シリーズタイトル: VLSIのノイズ・タイミング解析
著者標目: Shuai Fang
Zhangcai Huang
Atsushi Kurokawa
タイトル（掲載誌）: 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集
巻号年月日等（掲載誌）: 19 2006.04.24
掲載巻: 19
掲載ページ: 1～4
掲載年月日（W3CDTF）: 2006-04-24
出版事項（掲載誌）: [東京] : [電子情報通信学会]
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z74-E560
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 8708149
http://id.ndl.go.jp/bib/8708149
整理区分コード: 632