最近の展望 窒化物半導体薄膜の走査プローブ顕微鏡による微視的評価
デジタルデータあり（Japan Link Center）
すぐに読む
CiNii Research
全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 高村(山田) 由起子王 治涛藤川 安仁 他
- 並列タイトル等
- Recent developments: Surface studies of nitride thin films using scanning probe microscopy
- タイトル（掲載誌）
- 応用物理
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 76(5) 2007.5
- 掲載巻
- 76
- 掲載号
- 5
- 掲載ページ
- 499～504