テスト応答・テストベ...

テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのスキャンチェーン線長を考慮したスキャンFFの並べ換え手法 (特集 システムLSI設計とその技術)

記事を表すアイコン

テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのスキャンチェーン線長を考慮したスキャンFFの並べ換え手法

(特集 システムLSI設計とその技術)

国立国会図書館請求記号
Z14-741
国立国会図書館書誌ID
8821261
資料種別
記事
著者
京谷 忠雄ほか
出版者
東京 : 情報処理学会
出版年
2007-05
資料形態
掲載誌名
情報処理学会論文誌 = IPSJ journal 48(5) 2007.5
掲載ページ
p.1906~1917
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
京谷 忠雄
篠木 剛
山田 宏行 他
並列タイトル等
Scan-FF reordering method for reducing LSI test application timeconsidering wire length in test response test vector overlapping testing
タイトル(掲載誌)
情報処理学会論文誌 = IPSJ journal
巻号年月日等(掲載誌)
48(5) 2007.5
掲載巻
48
掲載号
5