テスト応答・テストベ...

テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのスキャンチェーン線長を考慮したスキャンFFの並べ換え手法 (特集 システムLSI設計とその技術)

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テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのスキャンチェーン線長を考慮したスキャンFFの並べ換え手法

(特集 システムLSI設計とその技術)

Call No. (NDL)
Z14-741
Bibliographic ID of National Diet Library
8821261
Material type
記事
Author
京谷 忠雄ほか
Publisher
東京 : 情報処理学会
Publication date
2007-05
Material Format
Paper
Journal name
情報処理学会論文誌 = IPSJ journal 48(5) 2007.5
Publication Page
p.1906~1917
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
京谷 忠雄
篠木 剛
山田 宏行 他
Alternative Title
Scan-FF reordering method for reducing LSI test application timeconsidering wire length in test response test vector overlapping testing
Periodical title
情報処理学会論文誌 = IPSJ journal
No. or year of volume/issue
48(5) 2007.5
Volume
48
Issue
5